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ZEM-5热电性能分析系统

放大图片	产品型号：
	产品品牌：
	当前价格：	面议
	最小起订：	不限
	供货总量：	不限
	所在地：	江苏泰州市
	发布时间：	2023-11-27 16:46

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泰州市先科仪器厂

联系人：韩一一女士((经理))

电话：0523--88520868

手机：13921728650

传真：0523--88520868

地址：江苏省泰州市城南工业园

邮编：225500

网址：http://www.51spjx.com/xianke8888/

E-mail：jyxianke@sina.com

详细信息

ZEM-5热电性能分析系统

技术特点：
适用于研究开发各种热电材料和薄膜材料，提高测量精度
温度检测采用C型热电偶，最适合测量Si系列热电材料(SiGe, MgSi等) *HT型
真正可测基板上的纳米级薄膜（TF型）
最大可测10MΩ高电阻材料
标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表
基于日本工业标准JIS (热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2)

ZEM-5HT ZEM-5HR ZEM-5LT ZEM-5TF
特　　点高温型高电阻型
最大电阻：10MΩ 低中温型薄膜型
可测在基板上形成的热电薄膜
温度范围 RT-1200℃ RT-800℃ -150℃-200℃ RT-500℃
样品尺寸直径或正方形：2 to 4 mm2 ；
长度3 ～ 15mm 成膜基板：宽2-4mm，厚0.4-12mm，长20mm
薄膜厚度：≥nm量级
薄膜样品与基板要求绝缘
控温精度                                        ±0.5K
测量精度                 塞贝克系数：＜±７％；　　　　   电阻系数：＜±７％
测量原理                 塞贝克系数：静态直流电；           电阻系数：四端法
测量范围               塞贝克系数：0.5μV/K_25V/K；     电阻系数：0.2Ohm-2.5KOhm/10MΩ
分辨率                 塞贝克系数：10nV/K；             电阻系数：10nOhm
气　　氛减压Ｈｅ

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